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# Urheber Titel Jahr Bestand
1
Schubert, Mathias, 1966- Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures / Mathias Schubert. - (Springer tracts in modern physics ; 209 : Solid state physics) 

URL: http://digitale-objekte.hbz-nrw.de/storage/2006/07/07/file_339/1502808.pdf
URL: http://digitale-objekte.hbz-nrw.de/storage/2006/07/07/file_339/1502809.jpg
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2004 
     


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