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1
Franco, Jacopo Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications [Elektronische Ressource] / by Jacopo Franco, Ben Kaczer, Guido Groeseneken. - (Springer Series in Advanced Microelectronics ; 47) 

URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-94-007-7663-0 ; Hinw.: Resolving-System
URL: http://digitale-objekte.hbz-nrw.de/storage2/2018/07/06/file_449/8078094.pdf
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2014 
     


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